SMART-Berichterstellung eines schlechten Sektors, der größer ist als die Sektorenanzahl
Ich versuche, einen Remote-Backup-Server zu erstellen. Daher habe ich Smartmontools installiert, um meine 1-TB-Festplatte Samsung M3 External (USB3) zu überwachen.
Ich habe einen Selbsttest durchgeführt und es wurde ein Lesefehler ausgegeben:
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0 ... 197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1 198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0 SMART Extended Self-test Log Version: 1 (2 sectors) Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Extended offline Completed: read failure 10% 956 1953524376
Danach habe ich versucht, dem HOWTO- Tutorial für Smartmontools zu folgen .
Ich habe versucht herauszufinden, auf welcher Partition der Fehler liegt, als ich feststellte, dass fdisk -l
dem Sektor 19535 2 4376 zufolge nur 19535 0 4688 Sektoren fehlen.
Disk /dev/sda: 931.5 GiB, 1000194400256 bytes, 1953504688 sectors Units: sectors of 1 * 512 = 512 bytes Sector size (logical/physical): 512 bytes / 512 bytes I/O size (minimum/optimal): 512 bytes / 512 bytes Disklabel type: gpt Disk identifier: 13771C11-8744-B04F-AF61-FA42552D12A6 Device Start End Sectors Size Type /dev/sda1 2048 1953486847 1953484800 931.5G Solaris /usr & Apple ZFS /dev/sda9 1953486848 1953503231 16384 8M Solaris reserved 1
Dies wurde auch bestätigt, dd
als ich versuchte, den Sektor zu überschreiben:
dd if=/dev/sda bs=512 count=1 skip=1953524376 dd: /dev/sda: cannot skip: Invalid argument 0+0 records in 0+0 records out 0 bytes copied, 0.000439632 s, 0.0 kB/s
Kann mir jemand erklären, wie ich den Umzug für diesen Sektor erzwingen kann? Ich habe darüber nachgedacht, die gesamte Platte mit Nullen umzuschreiben dd
, aber ich sehe keinen Grund dahinter, wenn sie nicht in den schlechten Sektor schreiben kann.
Beim Schreiben habe ich auch festgestellt, dass smartctl
mein Plattenmodell, Gerät und meine Seriennummer schlecht gemeldet werden. Laut Aufkleber habe ich eine
Samsung M3 Portable 1TB Model: HX-M101TCB/G Serial: E2FWJJHDA226A9
Könnte dies der Grund dafür sein, dass der Test etwas "unmögliches" findet?
Hier ist meine volle smartctl -a
Leistung:
smartctl 6.5 2016-05-07 r4318 [armv7l-linux-4.9.28-2-ARCH] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF INFORMATION SECTION === Model Family: Seagate Samsung SpinPoint M8U (USB) Device Model: ST1000LM025 HN-M101ABB Serial Number: E1653G14AB6A7P LU WWN Device Id: 0 000000 000000000 Firmware Version: 2AR10001 User Capacity: 1,000,204,886,016 bytes [1.00 TB] Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical Rotation Rate: 5400 rpm Form Factor: 2.5 inches Device is: In smartctl database [for details use: -P show] ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 6 SATA Version is: SATA 3.0, 3.0 Gb/s (current: 3.0 Gb/s) Local Time is: Tue May 30 00:55:00 2017 CEST SMART support is: Available - device has SMART capability. SMART support is: Enabled === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Status not supported: Incomplete response, ATA output registers missing SMART overall-health self-assessment test result: PASSED Warning: This result is based on an Attribute check. General SMART Values: Offline data collection status: (0x83) Offline data collection activity is in a Reserved state. Auto Offline Data Collection: Enabled. Self-test execution status: ( 113) The previous self-test completed having the read element of the test failed. Total time to complete Offline data collection: (13140) seconds. Offline data collection capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate. Auto Offline data collection on/off support. Suspend Offline collection upon new command. Offline surface scan supported. Self-test supported. No Conveyance Self-test supported. Selective Self-test supported. SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering power-saving mode. Supports SMART auto save timer. Error logging capability: (0x01) Error logging supported. General Purpose Logging supported. Short self-test routine recommended polling time: ( 2) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: ( 219) minutes. SCT capabilities: (0x003f) SCT Status supported. SCT Error Recovery Control supported. SCT Feature Control supported. SCT Data Table supported. SMART Attributes Data Structure revision number: 16 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x002f 100 100 051 Pre-fail Always - 3 2 Throughput_Performance 0x0026 252 252 000 Old_age Always - 0 3 Spin_Up_Time 0x0023 086 086 025 Pre-fail Always - 4467 4 Start_Stop_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1898 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 252 252 010 Pre-fail Always - 0 7 Seek_Error_Rate 0x002e 252 252 051 Old_age Always - 0 8 Seek_Time_Performance 0x0024 252 252 015 Old_age Offline - 0 9 Power_On_Hours 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 956 10 Spin_Retry_Count 0x0032 252 252 051 Old_age Always - 0 11 Calibration_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4 12 Power_Cycle_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 952 191 G-Sense_Error_Rate 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 9 192 Power-Off_Retract_Count 0x0022 252 252 000 Old_age Always - 0 194 Temperature_Celsius 0x0002 055 049 000 Old_age Always - 45 (Min/Max 27/52) 195 Hardware_ECC_Recovered 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0 196 Reallocated_Event_Count 0x0032 252 252 000 Old_age Always - 0 197 Current_Pending_Sector 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 1 198 Offline_Uncorrectable 0x0030 252 252 000 Old_age Offline - 0 199 UDMA_CRC_Error_Count 0x0036 200 200 000 Old_age Always - 0 200 Multi_Zone_Error_Rate 0x002a 100 100 000 Old_age Always - 545 223 Load_Retry_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 4 225 Load_Cycle_Count 0x0032 098 098 000 Old_age Always - 27934 SMART Error Log Version: 1 No Errors Logged SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Extended offline Completed: read failure 10% 956 1953524376 # 2 Short offline Completed: read failure 70% 952 1953524376 SMART Selective self-test log data structure revision number 0 Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS 1 0 0 Completed_read_failure [10% left] (0-65535) 2 0 0 Not_testing 3 0 0 Not_testing 4 0 0 Not_testing 5 0 0 Not_testing Selective self-test flags (0x0): After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk. If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Welche weiteren Diagnosen sollte ich machen? Kann ich dieses Laufwerk zuverlässig verwenden? Wenn ja, welche Vorsichtsmaßnahmen sollte ich beachten und / oder welche Korrekturmaßnahmen sollte ich ergreifen?
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